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经营范围
发明名称
Hochgeschwindigkeitswellenformabtastung mit einem Feldeffektmikroskop.
摘要
申请公布号
DE69003565(T2)
申请公布日期
1994.05.11
申请号
DE1990603565T
申请日期
1990.02.19
申请人
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK, N.Y., US
发明人
CHIU, GEORGE L., CROSS RIVER, NY 10518, US;HALBOUT, JEAN-MARC, LARCHMONT, NY 10538, US
分类号
G01B7/34;G01N27/00;G01N37/00;G01Q60/10;G01Q60/14;H01J37/28;(IPC1-7):G01N27/00
主分类号
G01B7/34
代理机构
代理人
主权项
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