| 摘要 |
método de medição de tensão em metais com correção do efeito da microestrutura refere-se o presente pedido de patente de invenção a um 5 método não destrutivo de medição de tensão em metais. o método proposto utiliza ondas ultrassônicas longitudinais criticamente refratadas e compensa os efeitos devido à microestrutura do material. a principal aplicação do método proposto reside na medição de tensão mecânica em estruturas, chapas e componentes metálicos como estruturas de aeronaves, dutos, vasos de 10 pressão, componentes automotivos, dentre outros. a principal vantagem do método proposto é que este permite medir diretamente a tensão, descontando o estado inicial de referencia a partir das imagens geradas do material já sob tensão. |
