| 发明名称 |
Apparat zur Inspektion von Leiterplatten |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69707624(T2) |
申请公布日期 |
2002.07.18 |
| 申请号 |
DE19976007624T |
申请日期 |
1997.12.05 |
| 申请人 |
NIDEC-READ CORP., UJI |
发明人 |
NISHIKAWA, HIDEO;MIKI, TAKASHI |
| 分类号 |
G01R31/02;G01R1/073;H05K3/00;(IPC1-7):G01R1/073 |
主分类号 |
G01R31/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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