发明名称 基于对数掺杂变In组分反射式结构GaAs光电阴极
摘要 本发明公开了一种基于对数掺杂变In组分负电子亲和势GaAs光电阴极,该光电阴极是由高质量P型GaAs衬底、过渡层、p‑GaAlAs缓冲层、p型GaAs发射层以及Cs/O激活层组成,其中连接衬底层和p‑GaAlAs缓冲层之间的过渡层由m个变In的外延材料构成的单元层组成,m的取值范围为1≤m≤20;对于p型GaAs发射层采用电场减少型的对数掺杂结构,发射层的掺杂浓度按照N(x)=N<sub>0</sub>log<sub>a</sub><sup>Ax</sup>,(0<a<1)规律变化;发射层厚度选择为8μm,梯度浓度从1×10<sup>21</sup>cm<sup>‑3</sup>到1×10<sup>16</sup>cm<sup>‑3</sup>渐变。该阴极的优点在于通过过渡层以及缓冲层的变In结构对阴极进行界面修饰,然后自然过渡到发射层,提高了其量子效率;另一方面对数掺杂提高了阴极中电子的平均输运距离,从而也提高了其量子效率。
申请公布号 CN103745899B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201410010132.2 申请日期 2014.01.03
申请人 中国计量学院 发明人 陈亮;沈洋;周占春;郭海龙;金尚忠;张淑琴;杨润光;沈为民;常本康;钱芸生;周木春
分类号 H01J1/34(2006.01)I;H01J40/06(2006.01)I 主分类号 H01J1/34(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于对数掺杂变In组分反射式结构GaAs的光电阴极,其特征在于:该光电阴极是由高质量P型GaAs(100)衬底、过渡层、p‑GaAlAs缓冲层、p型GaAs发射层以及Cs/O激活层组成;连接衬底和p‑GaAlAs缓冲层之间的所述过渡层由m个变In的外延材料构成的单元层组成,m的取值范围为1≤m≤20,在每个单位层中In的组分是逐渐减少的;所述p型GaAs发射层采用电场减少型的对数掺杂结构,按照N(x)=N<sub>0</sub>log<sub>a</sub><sup>Ax</sup>,(0<a<1)规律变化;所述p型GaAs发射层的厚度选择为8μm,所述p型GaAs发射层的掺杂浓度控制在1×10<sup>21</sup>cm<sup>‑3</sup>以内。
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