| 发明名称 |
METHOD FOR RECOGNIZING BLOWN FUSE OF SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH11251438(A) |
申请公布日期 |
1999.09.17 |
| 申请号 |
JP19980050258 |
申请日期 |
1998.03.03 |
| 申请人 |
MIYAGI OKI DENKI KK;OKI ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
TAKAHASHI KOICHI |
| 分类号 |
H01L21/82;H01H85/00;H01H85/06;H01H85/08;(IPC1-7):H01L21/82 |
主分类号 |
H01L21/82 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
