| 发明名称 | 测量液晶显示面板研磨量的设备和方法 | ||
| 摘要 | 一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元，一用来产生单元液晶显示面板的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统，以及一用来产生单元液晶显示面板的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统，其中该单元液晶显示面板的上边缘部分比该单元液晶显示面板的下边缘部分研磨得更多。 | ||
| 申请公布号 | CN100381880C | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
| 申请号 | CN200310103880.7 | 申请日期 | 2003.11.18 |
| 申请人 | LG.菲利浦LCD株式会社 | 发明人 | 秋宪铨;金德铉;沈和燮;林种高 |
| 分类号 | G02F1/133(2006.01);B23Q17/24(2006.01);B23Q17/20(2006.01);B24B9/00(2006.01);B24B9/10(2006.01) | 主分类号 | G02F1/133(2006.01) |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐金国;梁挥 |
| 主权项 | 1.一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备，包括：一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元；一用来产生单元液晶显示面板上边缘部分研磨面图像的第一成像系统；以及一用来产生单元液晶显示面板下边缘部分研磨面图像的第二成像系统，其中该单元液晶显示面板的上边缘部分比该单元液晶显示面板的下边缘部分研磨得更多。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||