发明名称 低温贮箱在无绝热结构状态下的低温内压试验考核方法
摘要 本发明涉及低温贮箱在无绝热结构状态下的低温内压试验考核方法,首先搭建试验系统,进行低温贮箱的低温内压试验,之后对试验结果进行定量评判,该考核方法克服了采用常规方法对低温贮箱进行试验考核的局限,可以在内压载荷及环境温度两方面覆盖贮箱的实际使用工况,与开展常温液压试验相比有效增加了环境覆盖性,此外还可以避免试验过程对绝热结构的损伤,解决了试验结果定量评价的问题。
申请公布号 CN104215520B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201410419424.1 申请日期 2014.08.22
申请人 北京宇航系统工程研究所;中国运载火箭技术研究院 发明人 鄢东洋;马云龙;潘桢;朱文俐;吴会强;郑卫东;刘希敏
分类号 G01N3/18(2006.01)I 主分类号 G01N3/18(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 范晓毅
主权项 低温贮箱在无绝热结构状态下的低温内压试验考核方法,其特征在于:包括如下步骤步骤(一)、搭建试验系统,具体方法如下:(1)、将待考核的低温贮箱(1)竖立放置,将低温贮箱(1)的下端面与支撑环(2)固定连接,所述支撑环(2)为与低温贮箱(1)的下端面形状尺寸相匹配的圆环;(2)、将低温贮箱(1)的后底(4)与加泄管路(5)连接,低温贮箱(1)的前底(6)分别与排气管路(7)、增压管路(8)和测压传感器(9)连接,低温贮箱(1)外表面设置温度传感器(10);排气管路(7)的末端设置手动控制的排气阀(11)和排气孔板(12),增压管路(8)与地面气源相连,为试验提供增压气体;步骤(二)、进行低温贮箱(1)的低温内压试验,具体方法如下:(1)、通过加泄管路(5)将试验介质注入低温贮箱(1),通过温度传感器(10)控制试验介质的加注量,确保在低温贮箱(1)前端,即靠近前底(6)的一端留出1m<sup>3</sup>~2m<sup>3</sup>的空间作为增压的气枕;在试验介质注入过程中,低温贮箱(1)的前底(6)所连接的排气阀(11)保持打开状态,并通过测压传感器(9)实时监测低温贮箱(1)内的压力;(2)、试验介质注入结束后,试验系统静置10min~15min使试验系统达到稳定状态,关闭排气阀(11),通过地面气源向低温贮箱(1)内充气增压,至低温贮箱(1)内的压力达到试验要求的载荷;(3)、增压完成后,试验系统保压2min~3min,保压过程中,通过调节排气孔板(12)的通径保持低温贮箱(1)内的压力不变;(4)、试验完成后以加压挤压的方式通过加泄管路(5)泄出低温贮箱(1)内的试验介质,试验介质泄出完毕后通过常温氮气或干燥空气置换的方式促使低温贮箱(1)回温;步骤(三)、对低温贮箱(1)的低温内压试验结果进行评价,具体方法如下:低温贮箱(1)试验完成后,对低温贮箱(1)箱体内外观进行目视检查,检查内容包括箱体表面是否存在裂纹、焊缝处是否存在裂纹,当外观检查无裂纹缺陷时,对低温贮箱(1)进行氦质谱检漏试验,若整箱漏率达到要求数值,判定低温贮箱(1)低温内压试验结果合格,否则为不合格。
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