| 发明名称 |
Testvorrichtung für Halbleiterbausteine |
| 摘要 |
Es wird eine Testvorrichtung vorgeschlagen, bei der ein unterschiedliche Pinkarten (6, 7, 9) aufweisendes Testsystem (2) Halbleiterbausteine (14) auswertet.
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| 申请公布号 |
DE102007033127(A1) |
申请公布日期 |
2009.01.29 |
| 申请号 |
DE200710033127 |
申请日期 |
2007.07.16 |
| 申请人 |
QIMONDA AG |
发明人 |
FRANKOWSKY, GERD;MAYR, ROMAN |
| 分类号 |
G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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