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发明名称 DEFECT INSPECTION METHOD FOR OPTICAL DISK
摘要
申请公布号 JPH02307007(A) 申请公布日期 1990.12.20
申请号 JP19890128583 申请日期 1989.05.22
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 KAWAMOTO HIROAKI;HOURAI MOTOO;ISHIWATA OSAMU
分类号 G01B11/30;G01N21/88;G01N21/95 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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