发明名称 氮化矽膜制作方法及氮化矽膜制作装置
摘要 本发明的目的在于提供一种能以很好的再现性堆积成所需膜质的氮化矽膜的薄膜制作装置及其制作方法。它是在连接有排气系统和气体供给系统的真空容器内,配置发热体和基板,维持该发热体在预定温度,分解或活化由上述气体供给系统供给的原料气体,使氮化矽薄膜堆积在基板表面的化学蒸镀装置和蒸镀方法,其特征是:在上述真空容器内部,配置用以包围上述发热体和基板的内壁,形成成膜空间,设置将原料气体输入上述成膜空间的气体输入机构,同时,设置上述内壁的加热机构和/或冷却机构,形成将该内壁的温度控制在预定值的结构。
申请公布号 TWI287839 申请公布日期 2007.10.01
申请号 TW092109200 申请日期 2003.04.21
申请人 安内华股份有限公司;三菱电机股份有限公司 发明人 森崎仁史;神谷保志;野村秀二;户塚正裕;奥友希;服部亮
分类号 H01L21/31(2006.01);C23C16/54(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种氮化矽膜制作装置, 在连接有排气系统和气体供给系统的真空容器内, 配置发热体和基板; 维持所述发热体在预定温度,分解或活化由所述气 体供给系统供给的原料气体; 使氮化矽膜堆积在基板表面,其特征是: 在所述真空容器内部,配置用以包围所述发热体和 基板之上部全体及侧面的内壁,形成成膜空间; 设置将原料气体输入所述成膜空间的气体输入机 构;同时 设置所述内壁的加热机构和/或冷却机构,形成将 所述内壁温度控制在预定値的结构。 2.如申请专利范围第1项之氮化矽膜制作装置,其中 ,所述内壁和所述真空容器通过内壁支持部相连, 两者可以独立地控制温度。 3.如申请专利范围第1项之氮化矽膜制作装置,其中 ,所述内壁系连接着第1内壁和第2内壁,形成通过所 述连接部支撑的结构。 4.如申请专利范围第2项之氮化矽膜制作装置,其中 ,所述内壁系连接着第1内壁和第2内壁,形成通过所 述连接部支撑的结构。 5.如申请专利范围第1至4项中任一项之氮化矽膜制 作装置,其中,所述内壁的内面形状形成为弯曲形 状,使来自所述发热体的辐射热量在各部分大致相 同的形状。 6.如申请专利范围第1至4项中任一项之氮化矽膜制 作装置,其中,所述内壁的冷却机构是安装在所述 连接部的环状的冷却机构。 7.如申请专利范围第1至4项中任一项之氮化矽膜制 作装置,其中,所述气体输入机构具有向与所述基 板相对的内壁方向喷出的结构。 8.一种氮化矽膜制作方法, 在连接有排气系统和气体供给系统的真空容器内, 配置发热体和基板; 维持所述发热体在预定温度,然后分解或活化从所 述气体供给系统供给的原料气体; 使氮化矽膜堆积在基板表面,其特征是: 在所述真空容器内部,配置用以包围所述发热体和 基板之上部全体及侧面的内壁,形成成膜空间用以 加热所述基板,并且控制所述内壁在预定的温度的 同时,将原料气体输入所述成膜空间,进行氮化矽 薄膜的堆积。 9.如申请专利范围第8项之氮化矽膜制作方法,其中 ,具有向与所述基板相对的内壁方向喷出原料气体 的结构,所述成膜空间的压力控制在0.1 ~10Pa。 10.如申请专利范围第8或9项之氮化矽膜制作方法, 其中,所述基板自所述内壁加热至高温。 图式简单说明: 图1表示本发明的氮化矽膜制作装置的一例的概略 剖面图。 图2为生产装置的一例示意图。 图3为现有的氮化矽膜制作装置的概略剖面图。
地址 日本