发明名称 偏轴自混式雷射都普勒测速装置
摘要 本发明系有关于一种利用都普勒测速原理所开发的偏轴自混式雷射都普勒测速装置,本装置采用一偏轴分光元件及光束扩大器以提高系统的侦测能力,其光学系统架构集积化、组装容易,讯号接收能力强、讯号杂讯比高且测速精确度可达0.1%,其侦测距离为传统干涉式测速装置之1.6倍;本装置可用于测量固定距离标的物速度,如水流流速、血液流速及飞行物对地速度等等。
申请公布号 TW350030 申请公布日期 1999.01.11
申请号 TW086117630 申请日期 1997.11.25
申请人 国防部中山科学研究院 发明人 吴修云
分类号 G01S7/00 主分类号 G01S7/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种偏轴自混式雷射都普勒测速装置,其特征系含有稳频雷射激发光源(内含共振腔)、偏轴式光束扩大器、离轴的光检测电路系统所构成,且能利用原雷射共振腔产生光干涉差频讯号并利用都普勒测速原理以测量速度。2.如申请专利范围第1项所述之一种偏轴自混式雷射都普勒测速装置,其中稳频雷射激发光源,可以发射雷射光至标的物,再由标的物散射回原光路,经由偏轴光束扩大器来增加回收光的入瞳口径,以增强接收光讯号至稳频雷射共振腔内,并与原雷射光源产生光共振差频讯号。3.如申请专利范围第1项所述之一种偏轴自混式雷射都普勒测速装置,其中离轴的光检测电路系统系由一光侦检与信号滤波放大电路及一差频锁模检讯电路系统所组成,用以检测部份反射的偏轴参考光束以得到干涉差频信号,并加以差频锁模之功能而能完成以都普勒原理来测定速度之装置。图式简单说明:第一图一般干涉型之雷射都普勒测速装置第二图一般自混型之雷射都普勒测速装置第三图本发明之偏轴自混式雷射都普勒测速装置第四图本发明在标的物轴向速度为12单位时利用频谱仪测得相对差频値第五图本发明在标的物轴向速度为27单位时利用频谱仪测得相对差频値第六图本发明在实验室测得标的物轴向速度与差频关系与理论値之比较
地址 桃园县龙潭乡佳安村中正路佳安段四八一号