发明名称 |
Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterkörpers mit einer Rekombinationszone, Halbleiterbauelement mit einer Rekombinationszone und Verfahren zum Herstellen eines solchen Halbleiterbauelements |
摘要 |
<p>In einem Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterkörpers werden Fremdstoffe, die in dem Halbleiterkörper als Rekombinationszentren wirken und eine Rekombinationszone ausbilden, während des Herstellungsprozesses des Halbleiterkörpers in den Halbleiterkörper eingebracht. Bei einem Halbleiterbauelement, das einen Halbleiterkörper mit einer vorderen Oberfläche und einer gegenüberliegenden hinteren Oberfläche aufweist sowie eine durch Fremdstoffe gebildete Rekombinationszone zwischen der vorderen und der hinteren Oberfläche aufweist, wobei die Fremdstoffe als Rekombinationszentren wirken, ist die Oberflächenzustandsdichte an der vorderen und hinteren Oberfläche des Halbleiterkörpers genauso groß wie die Oberflächenzustandsdichte an der vorderen und hinteren Oberfläche eines gleichen Halbleiterkörpers ohne Rekombinationszone.</p> |
申请公布号 |
DE102007036147(A1) |
申请公布日期 |
2009.03.05 |
申请号 |
DE20071036147 |
申请日期 |
2007.08.02 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG |
发明人 |
PFIRSCH, FRANK;SCHULZE, HANS-JOACHIM |
分类号 |
H01L21/225;H01L21/265;H01L21/331;H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/225 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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