发明名称 Formation of metal oxide masks, especially by reactive ion etching.
摘要 Strukturierung von Metalloxidmasken, z.B. durch reaktives Ionenstrahlätzen. Zur Herstellung kleiner und kleinster Strukturen in der Mikroelektronik werden in der Regel Fotolacke bzw. Lacke, die elektronen- oder röntgenstrahlempfindlich sind (z. B. PMMA), als Maskierung verwendet. Mit zunehmender Integration muß auch die Lackdicke verringert werden. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Verwendung von Sputter- oder Ionenstrahlätzen auch bei sehr ungünstigen Lackhöhen zu Ätztiefenverhältnissen verwendbar wu machen. Dies geschieht in der Weise, daß anstelle der Metallmaskierung eine Metalloxidmaskierung (3) verwendet wird, die mittels reaktiven Sputter- oder Ionenstrahlätzen strukturiert wird und anschließend diese strukturierte Metalloxidschicht als Maskierung der darunterliegenden Schicht (2) für einen Trockenätzvorgang, z.B Sputter- oder Ionenstrahlätzen, dient.
申请公布号 EP0056845(A2) 申请公布日期 1982.08.04
申请号 EP19810108438 申请日期 1981.10.16
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 MATHUNI, JOSEF, DR. DIPL.-PHYS.;UNGER GEB. LEE, KARIN
分类号 H01L21/302;G03F7/09;G03F7/40;H01L21/033;H01L21/3065;(IPC1-7):H01L21/00 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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