| 主权项 |
1.一种电路板之测试探针结构改良,系于电路板测试机台基板适当处置放有待测电路板,且于其上方则为一具有穿孔之模座,其特征在于:模座上、下面处分别连设有上、下固定导板,又于上固定导板上方处具有一活动导板及一被区隔块架空之压持介面板,而上述导板适当处均设有复数对应于模座穿孔之导孔,且于导孔内贯设有微探针,该微探针之一端具有可与电路板电子元件之接脚导线相接触的固定式触针,另端处则具有一可与压持介面板相贴触之伸缩式顶针,藉压持介面板与活动导板之上、下运动,得使微探针维持在上、下定导板之导孔内作精密垂直运动,而触针系固设于微探针之一端内,并未与导孔壁接触,能有效降低触针之磨损,且获致极佳之测试品质者。2.如申请专利范围第1项所述之电路板之测试探针结构改良,其中,该导板在符合基本强度条件下,其板体厚度可保持最小値,藉此能让导板导孔之钻削加工作业容易进行,且钻削成形之导孔孔径精度佳,能让孔身保持正直者。3.如申请专利范围第1项所述之电路板之测试探针结构改良,其中,该微探针具有一针管,于管身上段适当处设有一上颈缩部,而上端管口处则附有一凸缘,又管身下段适当处亦具有一下颈缩部,且在下项缩部与下端管口间之管身处设有凹点者。4.如申请专利范围第1项所述之电路板之测试探针结构改良,其中,该顶针系设于针管上段管身内,且于顶针与上颈缩部间容置有一压簧者。5.如申请专利范围第1项所述之电路板之测试探针结构改良,其中,该触针系设于针管下段管身内,且该针体藉针管管身之凹点顶持防止滑脱,又藉下颈缩部防止针体内缩者。图式简单说明:第一图 系本创作电路板之测试探针结构改良之结构图。第二图 系本创作电路板之测试探针结构改良之实施例图。第三图 系本创作之微探针结构图。第四图 系本创作之微探针结构组合图。第五图系本创作微探针与导板等构件之放大示意图(一)。第六图 系本创作微探针与导板等构件之放大示意图(二)。第七图系传统电路板之测试机台结构图(一)。第八图 系传统电路板之测试机台结构图(二)。第九图 系传统电路板之测试探针组之结构组成图。第十图 系传统电路板之测试探针组之结构图。第十一图 系传统探针组与针板组合之结构图。 |
