发明名称 プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
摘要 多層膜をプラズマエッチングする際に,凹部の下端形状を拡大しながらも,下地ロスを抑制する。CF系ガスと酸素ガスを含む処理ガスを処理室内に導入してプラズマエッチングを行うことによって,下地シリコン膜上に形成された比誘電率の異なる第1膜及び第2膜が交互に積層された積層膜を有する多層膜に所定深さまで凹部を形成するメインエッチング工程と,その後に下地シリコン膜が露出するまで凹部を形成するオーバーエッチング工程とを行い,オーバーエッチング工程はCF系ガスに対する酸素ガスの流量比をメインエッチングよりも増加させて行う第1オーバーエッチングと,CF系ガスに対する酸素ガスの流量比を第1オーバーエッチングよりも減少させて行う第2オーバーエッチングとを2回以上繰り返す。(図7)
申请公布号 JPWO2014069559(A1) 申请公布日期 2016.09.08
申请号 JP20140544572 申请日期 2013.10.31
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 小川 和人;中川 顕;小西 英紀
分类号 H01L21/3065;H01L21/336;H01L21/8247;H01L27/115;H01L29/788;H01L29/792 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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