发明名称 LSI TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH08327695(A) 申请公布日期 1996.12.13
申请号 JP19950136467 申请日期 1995.06.02
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD 发明人 GOTANDA TSUTOMU;TSUJI TOSHIAKI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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