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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD
摘要
申请公布号 JPH11154400(A) 申请公布日期 1999.06.08
申请号 JP19970321199 申请日期 1997.11.21
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 MAEJIMA HIROSHI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C11/401;G11C29/02;G11C29/04;G11C29/50;H01L21/66;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/318;H01L21/824 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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