发明名称 | 能谱测量中用于谱处理的方法和设备 | ||
摘要 | 用来在能谱测量中进行谱处理的设备包括:一个测量部分10,用来测量来自一个待测物体的用于测量的光的能谱;一个添加部分11,用来在用于测量的光的能谱上添加一个预定值;以及一个转换部分12,用来通过对添加了预定值的用于测量的光的能谱进行吸收率转换获得具有减小了噪声的吸收谱。 | ||
申请公布号 | CN1201521A | 申请公布日期 | 1998.12.09 |
申请号 | CN96198168.7 | 申请日期 | 1996.10.31 |
申请人 | 株式会社京都第一科学 | 发明人 | 芦边惠美 |
分类号 | G01J3/28 | 主分类号 | G01J3/28 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 蹇炜 |
主权项 | 1、一种在能谱测量中用于谱处理的方法,它包括以下步骤:测量来自一个待测物体的用于测量的光的能谱;在用于测量的光的能谱上添加一个预定值;以及通过对添加了预定值的用于测量的光的能谱进行吸收率转换获得具有减小了噪声的吸收谱。 | ||
地址 | 日本京都 |