发明名称 | 一种X射线荧光分析仪 | ||
摘要 | 一种用于测定试样中元素含量及在试样表面的分布的X射线荧光分析仪由X光源、样品、探测器、放大器和计算机多道分析器等组成,其特点在于:在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜,该透镜为一个单一的、没有支撑部件的多孔玻璃固体,内有多个从所述固体一端贯通到另一端的X光导孔,且该玻璃固体由上述X光导孔壁自身熔合而成,本实用新型的分析灵敏度高、探测极限低、功率密度大,并可用于微区分析,且结构简单、造价低。 | ||
申请公布号 | CN2237241Y | 申请公布日期 | 1996.10.09 |
申请号 | CN96203532.7 | 申请日期 | 1996.02.17 |
申请人 | 中国航天工业总公司;北京师范大学 | 发明人 | 颜一鸣;丁训良;赫业军 |
分类号 | G01N23/223 | 主分类号 | G01N23/223 |
代理机构 | 航空航天工业部航天专利事务所 | 代理人 | 王兰凤;安丽 |
主权项 | 1.一种X射线荧光分析仪,由X光源、样品、探测器、放大器和计算机多道分析器等组成,其特征在于:在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜。 | ||
地址 | 100830北京市海淀区阜成路八号 |