发明名称 一种X射线荧光分析仪
摘要 一种用于测定试样中元素含量及在试样表面的分布的X射线荧光分析仪由X光源、样品、探测器、放大器和计算机多道分析器等组成,其特点在于:在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜,该透镜为一个单一的、没有支撑部件的多孔玻璃固体,内有多个从所述固体一端贯通到另一端的X光导孔,且该玻璃固体由上述X光导孔壁自身熔合而成,本实用新型的分析灵敏度高、探测极限低、功率密度大,并可用于微区分析,且结构简单、造价低。
申请公布号 CN2237241Y 申请公布日期 1996.10.09
申请号 CN96203532.7 申请日期 1996.02.17
申请人 中国航天工业总公司;北京师范大学 发明人 颜一鸣;丁训良;赫业军
分类号 G01N23/223 主分类号 G01N23/223
代理机构 航空航天工业部航天专利事务所 代理人 王兰凤;安丽
主权项 1.一种X射线荧光分析仪,由X光源、样品、探测器、放大器和计算机多道分析器等组成,其特征在于:在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜。
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