TEST CIRCUITRY OF AN INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING ONLY ONE SELECTION ELEMENT FOR EACH SIGNAL PATH,申请号EP20020740049-传众专利搜索

发明名称	TEST CIRCUITRY OF AN INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING ONLY ONE SELECTION ELEMENT FOR EACH SIGNAL PATH
摘要
申请公布号	EP1368670(B1)	申请公布日期	2005.03.23
申请号	EP20020740049	申请日期	2002.01.14
申请人	KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.	发明人	HEUTS, PATRICK, W., H.;KESSELS, JOZEF, L., W.;PEETERS, ADRIANUS, M., G.
分类号	G01R31/28;G01R31/3167;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/316;G01R31/318	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
地址