| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft einen Inertialsensor (1) als Inertialreferenz zur Lage- und Positionsbestimmung von Satelliten oder Satellitenteilen, umfassend eine Probemasse (2), die sich in einem elektrisch und magnetisch im wesentlichen feldfreiem, von einem Gehäuse (3, 4) umschlossenen Raum befindet, zwischen Referenzelementen (5, 6) am Gehäuse (3) und an der Probemasse (2) eingerichtete optische Messstrecken (8, 9) zur Bestimmung von Lage und/oder Position der Probemasse (2) relativ zu den Referenzelementen (5) am Gehäuse (3), eine sich außerhalb des Gehäuses (3, 4) befindliche Meßanordnung (11, 12, 13, 14, 15) für die optischen Messstrecken (8, 9). Gemäß der Erfindung sind die optischen Messstrecken (8, 9) als optische interferometrische Messstrecken ausgeführt, und die Lage und Position der Probemasse (2) ist mittels der in den optischen interferometrischen Messstrecken (8, 9) auf die Probemasse (2) ausgeübten Lichtdrucke einstellbar. <IMAGE></p> |
