发明名称 避免深渠沟的顶部尺寸扩大的方法
摘要 一种避免深渠沟的顶部尺寸扩大的方法,是提供一衬底,其上具有一衬垫结构且已完成深渠沟电容器的工艺;对该衬底上的衬垫结构进行回缩,露出部分该衬底的上表面,以一填充层填入一深渠沟,接着,再保形性形成一遮蔽层于上述衬垫结构、上述衬底露出的上表面及上述填充层上,且蚀刻上述遮蔽层以形成一遮蔽层间隙壁,完全包覆上述衬垫结构侧壁及上述衬底露出的上表面。利用本发明所述的方法,可避免深渠沟的顶部尺寸在蚀刻工艺中扩大,进一步防止深沟渠电容器中的次电压漏损。
申请公布号 CN1298048C 申请公布日期 2007.01.31
申请号 CN03146525.0 申请日期 2003.07.03
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 许平;吴国坚
分类号 H01L21/82(2006.01) 主分类号 H01L21/82(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 王一斌
主权项 1.一种避免深渠沟的顶部尺寸扩大的方法,包括下列步骤:提供一半导体衬底,包含有一渠沟以及一渠沟电容器,且具有一衬垫结构形成于上述半导体衬底的上表面,其中上述渠沟电容器包含有一节点介电层以及一储存节点,上述节点介电层是形成于该渠沟的侧壁与底部,上述储存节点是填入该渠沟至一预定深度;对上述半导体衬垫结构进行回缩,露出沟渠周围的上述半导体衬底上表面;以一填充层填入上述渠沟,使上述填充层露出的表面不高于上述半导体衬底的上表面;保形性形成一遮蔽层于上述衬垫结构、上述半导体衬底露出的上表面及上述填充层上;回蚀上述遮蔽层以形成一遮蔽层间隙壁,完全包覆上述衬垫结构侧壁及上述衬底露出的上表面;以及移除上述填充层,露出构成上述渠沟侧壁的半导体衬底表面。
地址 台湾省桃园县