| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING APPEARANCE, AND METHOD FOR REMOVING CAUSE OF ABNORMALITY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0427850(A) |
申请公布日期 |
1992.01.30 |
| 申请号 |
JP19900202441 |
申请日期 |
1990.08.01 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
KIYASU CHIYA;NINOMIYA TAKANORI |
| 分类号 |
G01B21/30;B23Q17/20;G01N21/88;G01N21/94;G06T1/00;G06T7/00;H05K3/00 |
主分类号 |
G01B21/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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