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发明名称 Semiconductor memory device with test circuit
摘要
申请公布号 GB2266610(A) 申请公布日期 1993.11.03
申请号 GB19930013568 申请日期 1993.06.30
申请人 * MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA 发明人 KAZUTAMI * ARIMOTO;KAZUYASU * FUJISHIMA;YOSHIO * MATSUDA;TSUKASA * OOISHI;MASAKI * TSUKUDE
分类号 G11C29/00;G11C11/401;G11C29/28;G11C29/34;G11C29/40;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
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