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<p>Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Scharfeinstellung für Mikroskope für Mikroskope bevorzugt für Stereomikroskope, mit einem Antrieb für die Fokussierbewegung in Richtung der Koordinate Z sowie mit Mitteln zur Kontrolle der Scharfeinstellung auf mehrere verschiedene Positionen z1, z2 zn, die innerhalb eines Beobachtungsobjektes auf der Koordinate Z liegen. Es ist ein Wegmesssystem zur Ermittlung des Verstellweges Δz bei Änderung der Scharfeinstellung von einer ersten ausgewählten Position z1 auf eine zweite ausgewählte Position z2 vorgesehen und weiterhin eine mit dem Wegmesssystem gekoppelte Anzeigeeinrichtung zur Darstellung der ausgewählten Position z1, z2 und/oder zur Darstellung einer Massangabe für den Verstellweg Δz vorhanden. Die so mögliche objektive Beurteilung der Schärfe wird erfindungsgemäss zur Erhöhung der Genauigkeit bei der Tiefenmessung genutzt.</p> |
