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发明名称 Multibit-Testschaltkreis einer Halbleiterspeichereinrichtung
摘要
申请公布号 DE4441007(C2) 申请公布日期 1998.07.30
申请号 DE19944441007 申请日期 1994.11.17
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD., SUWEON, KYUNGKI, KR 发明人 SHIN, CHOONG-SUN, INCHEON, KR
分类号 G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/34;G11C29/38;H01L27/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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