发明名称 |
OPERABLE FLOATING GATE CONTACT FOR SOI |
摘要 |
<p>본 발명은 실리콘-온-절연체(silicon-on-insulator) 반도체 디바이스 구조체를 이용하는 FET 구조체에 관한 것이다. 이 구조체는 실리콘-온-절연체 기판 구조체를 포함한다. 실리콘-온-절연체 기판 상에는 소스 및 드레인 확산 영역이 제공된다. FET 바디 영역은 소스 및 드레인 확산 영역에 상호접속된다. 게이트 산화물 영역은 바디 영역과 소스 및 드레인 확산 영역의 적어도 일부분 위에 배치된다. 게이트 영역은 게이트 산화물 영역의 적어도 일부분 위에 배치된다. 다이오드는 게이트 영역과 FET 바디 영역 사이에 접속되어 도전성 경로(a conductive pathway)를 제공한다. 다이오드는 고 임계 전압 FET 영역(a high threshold FET region)에 의해 FET 소스 및 드레인 영역과 반전 채널(inversion channel)로부터 전기적으로 격리된다.</p> |
申请公布号 |
KR100344736(B1) |
申请公布日期 |
2002.07.19 |
申请号 |
KR19990038249 |
申请日期 |
1999.09.09 |
申请人 |
인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 |
发明人 |
브라이언트앤드레스;노웍에드워드제이;통민에이치 |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/8247;H01L21/84;H01L27/115;H01L29/423;H01L29/786 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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