| 主权项 |
一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法，其特征是：(1)明确待测光纤中含有缺陷点的个数和相应位置，分别记为X<sub>1</sub>,X<sub>2</sub>,…,X<sub>j</sub>,…,X<sub>J</sub>；(2)测量待测光纤中由缺陷点分开的区间光纤长度记为l<sub>1</sub>,l<sub>2</sub>,…,l<sub>j</sub>,…,l<sub>J+1</sub>；(3)根据关系S<sub>j</sub>＝l<sub>j</sub>×Δn<sub>f</sub>，计算出区间光纤对应的光程差S<sub>1</sub>,S<sub>2</sub>,…,S<sub>j</sub>,…,S<sub>J</sub>，Δn<sub>f</sub>是保偏尾纤的线性双折射；(4)根据待测光纤具体的缺陷点个数和区间光纤长度，由分析公式预测特征干涉峰的位置‑幅值关系；(5)将待测光纤的两端接入白光干涉仪测试系统，两端分别与白光干涉仪测试系统中的起偏器、检偏器的保偏尾纤焊接；(6)调整待测光纤的两端与起偏器、检偏器的保偏尾纤的输入‑输出对轴角度为45°～0°；(7)启动白光干涉仪测试系统，获得第1次干涉信号，其横坐标为扫描光程数值OPD，纵坐标为偏振串扰幅度P；(8)对比测量干涉信号中特征干涉峰与45°～0°条件下预测干涉峰的位置和幅值；(9)如果测量干涉峰数量多于预测干涉峰的数量，则执行步骤(10)，否则执行步骤(14)；(10)分别调整改变待测光纤与起偏器、检偏器的保偏尾纤的输入‑输出对轴角度θ<sub>1</sub>‑θ<sub>2</sub>为0°～0°、0°～45°、45°～45°；(11)启动白光干涉仪测试系统，获得另外3次对轴角度下的测量干涉信号；(12)对比0°～0°、0°～45°、45°～45°测量干涉信号与45°～0°测量干涉信号，找出幅值增大的干涉峰；(13)分别将幅值增大的干涉峰，与对应0°～0°、0°～45°、45°～45°条件下预测干涉峰的幅值进行对比；(14)得到第1次干涉信号即45°～0°条件下的所有测试干涉峰的含义，识别出伪干涉峰以及代表真实耦合情况的干涉峰。 |
