发明名称 Method and device for the selection of highly reliable integrated circuits.
摘要 <p>Dispositif permettant notamment d'exciter de manière successive et séquentielle les différents types de circuits intégrés réunis par groupes. Il comporte selon une réalisation préférentielle une seule batterie d'amplificateurs A1 à A26, chaque voie amplificatrice étant validée l'une après l'autre au moyen d'un circuit démultiplexeur DMX2 commandé à partir d'une unité de traitement et de programmation UTP. Les alimentations comportent une alimentation ALP programmable adressée également par l'UTP et dont la sortie est appliquée à une matrice de commutation MC1, également adressée par l'UTP et connectée par P sorties respectivement au P groupes CI1 à CIP de circuits intégrés. La transmission des signaux d'excitation vers le groupe de circuits intégrés intéressé par ces signaux s'effectue au moyen d'une deuxième matrice de commutation MC2 adressée par l'UTP. La mémoire de masse M1 associée à l'UTP tel un micro-processeur pourra comporter un programme de test fonctionel électrique pour programmer les signaux d'excitation désirés pour la sélection. L'invention s'applique aux dispositifs de sélection de circuits intégrés à haute fiabilité opérant la sélection en fonction de contraintes climatiques et dynamiques prédéterminées.</p>
申请公布号 EP0065445(A1) 申请公布日期 1982.11.24
申请号 EP19820400795 申请日期 1982.04.30
申请人 THOMSON-CSF 发明人 CHARRUAU, STEPHANE
分类号 G01R31/26;G06F11/24;(IPC1-7):01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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