发明名称 | 晶片测试机的测片台 | ||
摘要 | 本发明涉及一种光学晶片测试机的测片台,包括托台、测片台面,U型支架安装于托台上,对称安装在气爪的两连接臂上各安装一根归正杆,连接臂上各安装一根归正杆间距调节螺钉(7),测片台面上开有气孔,与真空接头连接。本发明结构优化,操作简便,降低了部件磨损对测量准确度的影响,降低了成本。 | ||
申请公布号 | CN1584537A | 申请公布日期 | 2005.02.23 |
申请号 | CN200410024866.2 | 申请日期 | 2004.06.02 |
申请人 | 周巍 | 发明人 | 周巍 |
分类号 | G01M11/04 | 主分类号 | G01M11/04 |
代理机构 | 台州市方圆专利事务所 | 代理人 | 蔡正保 |
主权项 | 1、一种晶片测试机的测片台,包括托台(3)、测片台面(8)组成,其特征在于U型支架(2)安装于托台(3)上,气爪(10)的两连接臂(5)各安装一根归正杆(6)。 | ||
地址 | 318000浙江省台州市椒江区云健小区15幢201室 |