发明名称 晶片测试机的测片台
摘要 本发明涉及一种光学晶片测试机的测片台,包括托台、测片台面,U型支架安装于托台上,对称安装在气爪的两连接臂上各安装一根归正杆,连接臂上各安装一根归正杆间距调节螺钉(7),测片台面上开有气孔,与真空接头连接。本发明结构优化,操作简便,降低了部件磨损对测量准确度的影响,降低了成本。
申请公布号 CN1584537A 申请公布日期 2005.02.23
申请号 CN200410024866.2 申请日期 2004.06.02
申请人 周巍 发明人 周巍
分类号 G01M11/04 主分类号 G01M11/04
代理机构 台州市方圆专利事务所 代理人 蔡正保
主权项 1、一种晶片测试机的测片台,包括托台(3)、测片台面(8)组成,其特征在于U型支架(2)安装于托台(3)上,气爪(10)的两连接臂(5)各安装一根归正杆(6)。
地址 318000浙江省台州市椒江区云健小区15幢201室