| 发明名称 |
TEST METHOD FOR A/D CONVERTER AND SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1146140(A) |
申请公布日期 |
1999.02.16 |
| 申请号 |
JP19970199988 |
申请日期 |
1997.07.25 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD |
发明人 |
TSUKAMOTO SABUROKU |
| 分类号 |
G01R31/316;G01R31/00;H03M1/10;(IPC1-7):H03M1/10 |
主分类号 |
G01R31/316 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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