发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 반도체층을 게이트 전극층, 소스 전극층 및 드레인 전극층 위에 형성하는 경우라도, 소자 특성을 향상시키는 것과 함께, 소자의 신뢰성을 향상시키는 것이 목적의 하나가 된다. 게이트 전극층과, 게이트 전극층 위에 형성된 게이트 절연층과, 게이트 절연층을 개재하여 게이트 전극층의 일부와 중첩하도록 형성된 소스 전극층 및 드레인 전극층과, 게이트 절연층, 소스 전극층 및 드레인 전극층 위에 형성된 반도체층을 갖는 구조에 있어서, 소스 전극층과 드레인 전극층의 사이의 영역에 위치하는 게이트 절연층의 막 두께를 게이트 전극층과 소스 전극층의 사이에 형성된 게이트 절연층 및 게이트 전극층과 드레인 전극층의 사이에 형성된 게이트 절연층의 막 두께보다 얇게 되도록 형성한다.
申请公布号 KR101630620(B1) 申请公布日期 2016.06.15
申请号 KR20090106761 申请日期 2009.11.06
申请人 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 发明人 아키모토 겐고;츠부쿠 마사시
分类号 H01L29/786 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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