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发明名称
被測定物の測定方法およびそれに用いる測定デバイス
摘要
本発明は、被測定物が保持された空隙配置構造体に電磁波を照射して、前記空隙配置構造体で散乱された電磁波の特性を検出することにより、前記被測定物の有無または量を測定する方法であって、前記空隙配置構造体は、主面に垂直な方向に貫通した複数の空隙部を有し、前記被測定物の少なくとも一部は、担体粒子を介して前記空隙配置構造体に保持されることを特徴とする、測定方法である。
申请公布号
JPWO2014017431(A1)
申请公布日期
2016.07.11
申请号
JP20140526908
申请日期
2013.07.22
申请人
株式会社村田製作所
发明人
長谷川 慎;神波 誠治;近藤 孝志;白井 伸明;岡田 俊樹
分类号
G01N21/01;G01N21/3586
主分类号
G01N21/01
代理机构
代理人
主权项
地址
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