发明名称 |
OXIDE FOR SEMICONDUCTOR LAYER OF THIN-FILM TRANSISTOR, SPUTTERING TARGET, AND THIN-FILM TRANSISTOR |
摘要 |
본 발명에 관한 박막 트랜지스터의 반도체층용 산화물은, Zn, Sn 및 In을 포함하고, 산화물에 포함되는 금속 원소의 함유량(원자%)을 각각, [Zn], [Sn] 및 [In]으로 하였을 때, 하기 수학식 1 내지 3을 만족하는 것이다. [수학식 1][수학식 2][수학식 3]본 발명에 따르면, 높은 이동도를 실현할 수 있고, 또한, 스트레스 내성(스트레스 인가 전후의 임계값 전압 시프트량이 적은 것)도 우수한 박막 트랜지스터용 산화물을 제공할 수 있었다. |
申请公布号 |
KR20160091443(A) |
申请公布日期 |
2016.08.02 |
申请号 |
KR20167019837 |
申请日期 |
2011.11.28 |
申请人 |
KABUSHIKI KAISHA KOBE SEIKO SHO (KOBE STEEL, LTD.);SAMSUNG DISPLAY CO., LTD. |
发明人 |
MIKI AYA;MORITA SHINYA;KUGIMIYA TOSHIHIRO;YASUNO SATOSHI;PARK, JAE WOO;LEE, JE HUN;AHN, BYUNG DU;KIM, GUN HEE |
分类号 |
H01L21/02;C23C14/08;C23C14/34;C23C14/54;C23C14/58;H01L29/06;H01L29/786 |
主分类号 |
H01L21/02 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|