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发明名称 I/O SWITCHING CIRCUIT OF IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH09257871(A) 申请公布日期 1997.10.03
申请号 JP19960066171 申请日期 1996.03.22
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SEKINO TAKASHI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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