| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING MICRO FOREIGN MATTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09257717(A) |
申请公布日期 |
1997.10.03 |
| 申请号 |
JP19960071982 |
申请日期 |
1996.03.27 |
| 申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
发明人 |
YONETANI TOSHIO;KATO SHIGERU |
| 分类号 |
G01B11/24;G01B11/245;G01N21/88;G01N21/93;G01N21/94;G01N21/958;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01B11/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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