发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE USING DOUBLE PATTERNING TECHNOLOGY AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
摘要 산의 확산 성질을 이용 유기막질간 용해도가 차이 나는 막을 형성하고 이를 이용하여 더블 패턴닝 마스크를 만들어 반도체 소자의 미세 패턴 형성하는 방법을 제공한다. 반도체 기판상에 다수의 제 1 마스크 패턴을 형성하고, 상기 다수의 제 1 마스크 패턴 상에 산을 포함하는 결합 캡핑층을 형성하고, 상기 결합 캡핑층에 산을 재제공하는 산 수용액을 제공하여 결합 캡핑층에 산을 재공급하고, 상기 제 1 마스크 패턴 사이사이에 제 2 마스크층을 형성하고, 용해도차를 이용 상기 산이 재공급된 결합 캡핑층을 제거 제 2 마스크 패턴을 형성하고, 상기 제 1 및 제 2 마스크 패턴으로 피식각막을 식각 원하는 패턴을 형성한다.
申请公布号 KR101654048(B1) 申请公布日期 2016.09.05
申请号 KR20090082645 申请日期 2009.09.02
申请人 삼성전자주식회사 发明人 김형희;강율;문성호;오석환;한소라;최성운
分类号 H01L21/027;H01L21/308 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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