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发明名称
Prüfmustererzeugungseinrichtung für sequentielle Logikschaltung einer integrierten Schaltung und Verfahren dazu
摘要
申请公布号
DE69230479(T2)
申请公布日期
2000.08.03
申请号
DE19926030479T
申请日期
1992.04.14
申请人
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.
发明人
TAKEOKA, SADAMI;MOTOHARA, AKIRA
分类号
G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/263;G06F11/273
主分类号
G01R31/3183
代理机构
代理人
主权项
地址
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