| 发明名称 |
METHOD FOR OBSERVING DEFECT OF ELECTROMAGNETIC ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH03238414(A) |
申请公布日期 |
1991.10.24 |
| 申请号 |
JP19900033768 |
申请日期 |
1990.02.16 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
KONAME KANJI;AOKI SHIGERU;ONISHI TAKESHI;HIRAIWA ATSUSHI;NAKAI MASAAKI;SATO AKIRA |
| 分类号 |
G02B21/00;G02B21/34;H01J37/26 |
主分类号 |
G02B21/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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