用于动态随机存取存储器的被减少的信号测试

摘要

本发明公开了一种用于测试具有多个配置成行和列的存储单元和多个分别对共同的行或列的存储单元信号进行放大的读出放大器的半导体存储器的方法和装置。该方法可用于确定在存储器的正常工作期间内在读出放大器处的信号,可不使用复杂和昂贵的毫纤探针。

主权项

1．一种测试具有多个配置成行和列的存储单元和多个分别对共同的行或列的存储单元信号进行放大的读出放大器的半导体存储器的方法，所述方法的特征在于，包括下述步骤：a)将一个电压电平写入所述存储单元的至少一个目标单元中；b)将与该目标单元连接的字线激活，其后将该字线去激活，由此来改变存储在该单元中的电压电平，并防止相关的读出放大器在该字线被激活时对该单元进行刷新；c)通过加上测试位线电压来对与该单元连接的位线充电；以及d)在将相关的读出放大器设置成允许状态的情况下，从该目标单元读出数据。