| 发明名称 | 用于检查感兴趣对象的计算机断层摄影装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种用于检查感兴趣对象(107)的计算机断层摄影装置(100)，该计算机断层摄影装置(100)包括探测元件(123)，适于以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射，以及确定单元(118)，适于根据对从探测元件(123)接收的探测信号进行的统计分析，确定关于感兴趣对象(107)的结构信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101056582A | 申请公布日期 | 2007.10.17 |
| 申请号 | CN200580038569.6 | 申请日期 | 2005.11.02 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | 安迪·齐格勒;托马斯·克勒;米夏埃多·格拉斯 |
| 分类号 | A61B6/03(2006.01) | 主分类号 | A61B6/03(2006.01) |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王英 |
| 主权项 | 1、一种用于检查感兴趣对象(107)的计算机断层摄影装置(100)，该计算机断层摄影装置(100)包括探测元件(123)，适于以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射；确定单元(118)，适于根据对从所述探测元件(123)接收的探测信号进行的统计分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||