发明名称 位线结构及其制造方法
摘要 本发明涉及包含表面位线和埋藏的位线(5,SL)的位线结构,其中该埋藏的位线形成在沟槽(T)的上段中,并经第一连接层(11)连接到有关的第一掺杂区(S)。此外,通过第二沟槽隔离层(4)与该埋藏的位线(5,SL)隔离的第一沟槽填充层(3)处于沟槽(T)的下段中。
申请公布号 CN1788343A 申请公布日期 2006.06.14
申请号 CN200480013022.6 申请日期 2004.04.21
申请人 因芬尼昂技术股份公司 发明人 R·卡科施克;F·舒勒;G·滕佩尔
分类号 H01L21/8247(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/8246(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 程天正;梁永
主权项 1、一种位线结构,包括:衬底(1,100,101),在该衬底中形成深沟槽(T);第一沟槽隔离层(2),其形成在沟槽表面上;第一沟槽填充层(3),其形成在所述第一沟槽隔离层(2)的表面上并填充所述沟槽(T)的下段;第二沟槽隔离层(4),其形成在所述第一沟槽填充层(3)的表面上;用于形成埋藏的位线(SL)的第二导电沟槽填充层(5),其形成在所述第二沟槽隔离层(4)的表面上并填充所述沟槽(T)的上段至少部分地直到所述衬底表面,;至少一个第一导电型(n)的第一掺杂区(8,S),其形成在所述衬底(101)的表面中;至少一个第一导电连接层(11,13A),其被形成用于将所述第一掺杂区(S)电连接到在所述第一掺杂区(8,S)的表面上的第二沟槽填充层(5,SL)、所述第一沟槽隔离层(2)和第二沟槽填充层(5,SL);至少一个第一导电型(n)的第二掺杂区(8,D),其形成在所述衬底(101)的表面中;表面电介质(7,10,12,12A,12B),其形成在所述衬底(101)的表面上和所填充的沟槽(T)的表面上;表面位线(DL),其形成在所述表面电介质的表面上;和至少一个第二连接层(13),其被形成用于将所述表面位线(DL)连接到所述表面电介质中的至少第二掺杂区(8,D)。
地址 德国慕尼黑