测量偏振模色散

摘要

本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪－傅立叶变换(FA－FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。

主权项

1.一种用于测量光学受试器件DUT的偏振模色散PMD的装置，所述测量装置包括：偏振光源，其用于经所述DUT发出具有偏振状态的光测试信号；光消偏振装置，其在所述偏振光源与所述光学器件之间，所述光消偏振装置包括：第一双折射元件，其具有与所述光测试信号的所述偏振状态成锐角的欧拉轴；以及第二双折射元件，其具有与所述第一双折射元件的所述欧拉轴及所述光测试信号的所述偏振状态均成锐角的欧拉轴；因此，所述光测试信号包含与所述第一和第二双折射元件所引发时延相关的多个载波分量；以及分析装置，其用于通过对所述多个载波分量取PMD平均值的方式计算所述DUT的平均PMD。