发明名称 | 半导体装置及其制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体装置及其制造方法。首先,形成一第一氧化层及一氧化层于一基材上,基材具有一第一区域及一第二区域。氮化物层中包含有氮原子。其次,氧化氮化层。氮化层中一部分之氮原子系移动至第一氧化层及基材中,且氮化层之上部系转化(convert)为一上氧化层。接着,移除对应于第二区域之上氧化层、氮化层及第一氧化层。再者,成长一第二氧化层于第二区域之基材上。第二氧化层中包含有氮原子。 | ||
申请公布号 | TW200926360 | 申请公布日期 | 2009.06.16 |
申请号 | TW097107389 | 申请日期 | 2008.03.03 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 赖二琨;施彦豪 |
分类号 | H01L21/8246(2006.01);H01L27/112(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8246(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 祁明辉;林素华 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |