发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种半导体装置及其制造方法。首先,形成一第一氧化层及一氧化层于一基材上,基材具有一第一区域及一第二区域。氮化物层中包含有氮原子。其次,氧化氮化层。氮化层中一部分之氮原子系移动至第一氧化层及基材中,且氮化层之上部系转化(convert)为一上氧化层。接着,移除对应于第二区域之上氧化层、氮化层及第一氧化层。再者,成长一第二氧化层于第二区域之基材上。第二氧化层中包含有氮原子。
申请公布号 TW200926360 申请公布日期 2009.06.16
申请号 TW097107389 申请日期 2008.03.03
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 赖二琨;施彦豪
分类号 H01L21/8246(2006.01);H01L27/112(2006.01) 主分类号 H01L21/8246(2006.01)
代理机构 代理人 祁明辉;林素华
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路16号