发明名称 | 样品发射光谱分析的方法和装置 | ||
摘要 | 使用火花放电的发射光谱分析的方法和装置,其特征在于,为样品分析所进行的每一次火花放电包括一提供足够数量的能量使包含在样品中的元素汽化的高能量部分和一提供足够数量的能量使被汽化元素发射光的低能量部分;其特征还在于,光谱学测量在该低能量部分进行,或在该高能量部分最后部分开始并在低能量部分继续进行。 | ||
申请公布号 | CN1033418A | 申请公布日期 | 1989.06.14 |
申请号 | CN88108289.9 | 申请日期 | 1988.11.30 |
申请人 | 株式会社岛津制作所 | 发明人 | 福井勳;林修三;深山隆男 |
分类号 | G01N21/67 | 主分类号 | G01N21/67 |
代理机构 | 上海专利事务所 | 代理人 | 颜承根 |
主权项 | 1、一种对包含被分析元素的样品进行发射光谱分析的方法,包括:以周期脉冲的形式提供能量,每一脉冲波形包括一较高的能量部分和一与所述的较高的能量部分连续的较低的能量部分,所述的较高的能量部分提供足够数量的能量用以汽化包含在所述样品中的所述的元素,而所述的较低的能量部分提供足够数量的能量使所述的被汽化的元素发光;把每一个所述脉冲的能量集中到所述样品上以及,用光谱学方法测量由所述被汽化元素发射的所述的光。 | ||
地址 | 日本京都市 |