发明名称 TEST PATTERN DISPLAY METHOD
摘要
申请公布号 KR0149266(B1) 申请公布日期 1998.10.15
申请号 KR19950023087 申请日期 1995.07.29
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 JANG, KANG-YUL
分类号 H04N17/00;(IPC1-7):H04N5/445 主分类号 H04N17/00
代理机构 代理人
主权项
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