发明名称 |
Ohmic contact for a p-layer of an InP photodiode substrate, and method of producing same. |
摘要 |
Ein Kontakt für eine p-leitende Schicht (5) eines InP-Substrates (1) von Fotodioden mit einer (In, Ga)(As,P)/InP- oder einer (In,Ga)As/InP- Heteroschichtstruktur soll ein ohmsches Verhalten besitzen, ohne die gute Passivierbarkeit des Bauelements und die Transparenz für die zu detektierende Strahlung negativ zu beeinträchtigen. Zwischen dem p-Kontakt (11) und einem p<+>-dotierten Gebiet (7) der p-leitenden Deckschicht (5) ist eine p-leitende InGaAs- oder InGaAsP-Zwischenschicht vorgesehen, die Teil der Schichtstruktur (4) oder eine zusätzlich eingebrachte Schicht ist. Ein erfindungsgemäßer ohmscher Kontakt findet insbesondere bei Fotodioden für den Wellenlängenbereich von 1µm bis 1,6µm Anwendung.
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申请公布号 |
EP0404987(A1) |
申请公布日期 |
1991.01.02 |
申请号 |
EP19890111873 |
申请日期 |
1989.06.29 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
JAKOWETZ, WOLF, DR. RER.NAT.;SCHAEFER, HERBERT, DR. RER.NAT.;OSOJNIK, KARL, DIPL.-ING. |
分类号 |
H01L31/0224;H01L31/105 |
主分类号 |
H01L31/0224 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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