发明名称 Ohmic contact for a p-layer of an InP photodiode substrate, and method of producing same.
摘要 Ein Kontakt für eine p-leitende Schicht (5) eines InP-Substrates (1) von Fotodioden mit einer (In, Ga)(As,P)/InP- oder einer (In,Ga)As/InP- Heteroschichtstruktur soll ein ohmsches Verhalten besitzen, ohne die gute Passivierbarkeit des Bauelements und die Transparenz für die zu detektierende Strahlung negativ zu beeinträchtigen. Zwischen dem p-Kontakt (11) und einem p<+>-dotierten Gebiet (7) der p-leitenden Deckschicht (5) ist eine p-leitende InGaAs- oder InGaAsP-Zwischenschicht vorgesehen, die Teil der Schichtstruktur (4) oder eine zusätzlich eingebrachte Schicht ist. Ein erfindungsgemäßer ohmscher Kontakt findet insbesondere bei Fotodioden für den Wellenlängenbereich von 1µm bis 1,6µm Anwendung.
申请公布号 EP0404987(A1) 申请公布日期 1991.01.02
申请号 EP19890111873 申请日期 1989.06.29
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 JAKOWETZ, WOLF, DR. RER.NAT.;SCHAEFER, HERBERT, DR. RER.NAT.;OSOJNIK, KARL, DIPL.-ING.
分类号 H01L31/0224;H01L31/105 主分类号 H01L31/0224
代理机构 代理人
主权项
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