物品的预览检验方法及其设备

摘要

本发明提供了一种用于在目测前对检验品预览检验的方法，该方法包括：缺陷信号检测步骤用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号，详细缺陷信息产生步骤用于在由所述缺陷信号检测步骤检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息，以及详细缺陷信息显现步骤用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生步骤产生的详细缺陷信息，以及一种用于在目测前对检验品预览检验的设备，该设备包括缺陷信号检测装置用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号，详细缺陷信息产生装置用于在由所述缺陷信号检测装置检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息，以及详细缺陷信息显现装置用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生装置产生的详细缺陷信息。

主权项

1、一种用于在目测前对检验品预览检验的方法，该方法包括：缺陷信号检测步骤，用于根据所述检验品的缺陷状态检测缺陷信号；详细缺陷信息产生步骤，用于根据由所述缺陷信号检测步骤检测到的缺陷信号产生详细缺陷信息；以及详细缺陷信息显现步骤，用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生步骤产生的详细缺陷信息；其中所述详细缺陷信息显现步骤为一打印步骤，所述打印步骤是用激光执行的，所述检验品在其全部或部分表面具有功能性，所述在其全部或部分表面具有功能性的检验品是一静电照相元件，所述静电照相元件是从包括静电照相感光元件、初级充电元件、载有显影剂的元件、中间转移元件、转移充电元件和固定元件构成的组中选择出来的一个，所述详细缺陷信息显现步骤在所述静电照相感光元件的非成像区域上显现所述详细缺陷信息，且所述详细缺陷信息包括缺陷位置信息，以及所述详细缺陷信息显现步骤适用于在所述详细位置信息的基础上在所述静电照相感光元件的缺陷位置的纵向延伸上显现所述详细缺陷信息。