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La presente invención se refiere a calibrador para medir el espesor de un recubrimiento de óxido de cromo sobre una capa de cromo, sobre un subestrato que comprende una fuente de luz para generar luz linealmente polarizada y dirigir la luz sobre el recubrimiento de óxido de cromo, medios separadores para dividir la luz elípticamente polarizada, reflejada por el recubrimiento de óxido de cromo en dos rayos parciales polarizados a un ángulo predeterminado entre sí, medios de detección para medir la intensidad de cada uno de los rayos parciales y medios de cálculo adaptados y dispuestos para calcular la elipticidad de la luz polarizada reflejada a partir de la intensidad medida de los dos rayos parciales y para calcular el espesor del recubrimiento a partir de la elipticidad.
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