发明名称 MEASURING METHOD OF WAFER TEMPERATURE
摘要
申请公布号 KR0165463(B1) 申请公布日期 1999.02.01
申请号 KR19950038235 申请日期 1995.10.30
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 SHIN, HWA-SOOK;JI, KYUNG-KOO
分类号 H01J29/70;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01J29/70
代理机构 代理人
主权项
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